半导体测试板 > probe card

probe card

产品简介

探针卡在CP测试中用于连接测试机和Die上的Pad,通常作为Loadboard的物理接口,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加 到Loadboard上。应用:晶元切割前,透过pc可以测试晶圆品质,避免不良产品产生封装成本。

应用流程

关键能力

网上棋牌-网上彩票平台-网上彩票代理